可靠性

我们的可靠性测试方案在新技术、新过程和新产品的开发中注重可靠性,确保产品/过程的变更满足甚至超过设计可靠性、实时生产可靠性验证标准,识别并校正客户使用的任何产品的故障原因。

可靠性估计

各个产品的 FIT 数值在鉴定支持部分的产品网页上提供。

FITS 计算信息 PDF

过程/技术可靠性

Fairchild采用专门的测试结构和加速应力技术,通过为各种故障机制提供量化故障率来评估过程等级可靠性。 这些应力技术包括传统的磨损测试和高加速晶圆级可靠性(WLR)测试。 WLR测试为传统应力技术提供补充数据,用以在开发阶段表征和改进过程可靠性,以及在生产阶段监控技术可靠性。

过程可靠性故障机制&测试 PDF
可靠性故障机制加速模型 PDF

产品可靠性

在引进新产品的过程中注重技术可靠性。 应力驱动型(JEDEC-47, AEC-Q100/Q101)、基于物理学(晶圆级)的测试方法,用于在产品鉴定期间评估可靠性。

鉴定测试方法依据客户的要求、Fairchild鉴定规范和目前适用的工业标准。

分立产品鉴定测试 PDF

IC 产品鉴定测试 PDF

光电产品鉴定测试 PDF

可靠性应力测试说明 PDF

实时可靠性监控

为了确保所有合格产品持续满足可靠性目标,监控流程定期测试一般器件系列,为可靠性测试库提供信息。

可靠性监控可针对内部和转包商制造的产品进行,包括产品系列和技术的JEDEC-47或AEC-Q100/Q101类型应力等级测试。

可靠性监控测试 PDF

变更的可靠性验证

满足 Fairchild 变更通知要求的产品和过程变更使用最初用于鉴定产品或工艺的相同或等效鉴定测试进行全面测试,以便兼容原始产品或工艺。 这些变更鉴定结果包含在变更通知中。

变更通知鉴定 PDF

质量可靠性和故障分析

当 Fairchild 产品发生可靠性故障时,Fairchild 的故障分析实验室将对其进行详细分析,以确定原因。 制造工厂采用故障原因来确定故障根源,并制定纠正措施来预防故障再次发生。 故障机制和根源在设计/过程FMEA中更新,将FMEA并入新产品的设计。

可在 我的飞兆 中提交请求来申请故障分析。

质量可靠性和故障分析